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工业硅化学分析方法 第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

国家标准
标准编号:GB/T 14849.4-2014 标准状态:现行
标准价格:31.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
GB/T14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、钛、镍、铜、铬、钒、镁、钴、磷、钾、钠、铅、锌、硼
含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、钛、镍、铜、铬、钒、镁、钴、磷、钾、钠、铅、锌、硼量的测定。
英文名称:  Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 4:Determination of impurity contents—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 14849.4-2008
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  冶金>>有色金属>>77.120.10铝和铝合金
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2014-12-05
实施日期:  2015-08-01
什么是归口单位? 归口单位:  全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)
起草单位:  昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司郑州研究院、昆明冶研新材料股份有限公司
起草人:  刘 维 理、王 劲 榕、李 跃 平、赵 德 平、杨 毅、赵 建 为、王 云 舟、王 宏 磊、聂 长 虹、刘英波、卢国洪、吴豫强、张云晖、谭少姬、程志武、周杰
页数:  16页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2015-08-01
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前言
GB/T14849《工业硅化学分析方法》分为9个部分:
———第1部分:铁含量的测定 1,10-二氮杂菲分光光度法;
———第2部分:铝含量的测定 铬天青-S分光光度法;
———第3部分:钙含量的测定 火焰原子吸收光谱法、偶氮氯膦Ⅰ分光光度法;
———第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法;
———第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法;
———第6部分:碳含量的测定 红外吸收法;
———第7部分:磷含量的测定 钼蓝分光光度法;
———第8部分:铜含量的测定 PADAP分光光度法;
———第9部分:钛含量的测定 二安替比林甲烷分光光度法。
本部分为 GB/T14849的第4部分。
本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T14849.4—2008《工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体发射光谱法测定元素含量》。与 GB/T14849.4—2008相比,主要技术变化如下:
———增加了铜、铬、钒、镁、钴、磷、钾、钠、铅、锌、硼的检测;
———增加了两种溶样方式;
———补充了重复性限、再现性限实验数据。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本部分负责起草单位:昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司郑州研究院、昆明冶研新材料股份有限公司。
本部分参加起草单位:云南出入境检验检疫局技术中心、通标标准技术服务有限公司、浙江合盛硅业有限公司、云南永昌硅业股份有限公司。
本部分主要起 草 人:刘 维 理、王 劲 榕、李 跃 平、赵 德 平、杨 毅、赵 建 为、王 云 舟、王 宏 磊、聂 长 虹、刘英波、卢国洪、吴豫强、张云晖、谭少姬、程志武、周杰。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T14849.4—2008。
引用标准
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