识别卡 记录技术 第2部分：磁条-低矫顽力 |
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| 标准编号：GB/T 15120.2-2012 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：43.0 元 |
客户评分：  |
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GB/T15120的本部分是描述在第4章中定义的识别卡的特性和国际交换中使用识别卡的系列标准之一。
本部分规定了识别卡上低矫顽力磁条(包括任何保护涂层)的特性、编码技术、编码磁道的位置和字符集。根据人、机两者因素规定了最低要求。
矫顽力影响到本部分中许多量值的规定,但本身未作规定。把卡暴露于磁场之中很可能使已记录的数据被破坏。
本部分适用于提供卡应遵循的准则。在这些标准中没有考虑使用次数,如果需要,则根据以前卡测试的经验。如果卡不符合规定准则,应在涉及到的各方中进行协商。
ISO/IEC10373-2规定了检查卡符合本部分规定参数的测试步骤。
注:在本部分中用到的公制和/或英制测量体系中的数值可能已经被换算,但相互间并不完全相等。两种制式都被
使用,但两者不宜被混杂或被再转换。最初的设计是使用英制测量体系。 |
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GB/T15120《识别卡 记录技术》分为以下几个部分:
———第1部分:凸印;
———第2部分:磁条 低矫顽力;
———第3部分:ID-1型卡上凸印字符的位置;
———第6部分:磁条 高矫顽力。
本部分为GB/T15120的第2部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T15120.2—1994《识别卡 记录技术 第2部分:磁条》、GB/T15120.4—1994
《识别卡 记录技术 第4部分:只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置》和GB/T15120.5—1994《识别卡 记录技术 第5部分:读写磁道的第3磁道的位置》。
鼓励使用者回顾整个标准的修订和更新。本次修订的主要变化如下:
a) 在GB/T15120.4—1994和GB/T15120.5—1994中给出的要求已经包含在GB/T15120.2的本版本中;
b) 将术语“主标准”修改为“源标准”;
c) 增加了部分术语和定义;
d) 增加了部分要求。
本部分修改采用ISO/IEC7811-2:2001《识别卡 记录技术 第2部分:磁条 低矫顽力》。
本部分与ISO/IEC7811-2:2001相比,存在如下少量差异:
a) 删除了国际标准前言;
b) 删除了文本中大部分的英制单位,对于工业界的习惯用法,某些部分的英制单位仍保留;
c) 根据目前源标准和二极标准的迁移情况,将源标准定义为“一套由德国物理技术研究院(PTB)建立,并且目前在美国Q-Card保存的基准卡,代表RM7811-2指定的UR 和IR 的数值”;将二级标准中的“注”改为“二级标准目前可以从美国Q-Card订购,地址为:301ReaganStreet,
Sunbury,PA17801,USA。二极标准源将至少保存到2012年”;
d) 根据ISO/IEC10373-2的最新版本,删除了ISO/IEC7811-2:2001的附录B“信号幅度测量”。
本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出。
本部分由中国电子技术标准化研究所归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所、云南南天电子信息产业股份有限公司、中国乐凯胶片集团公司。
本部分主要起草人:冯敬、段霞、金倩、高林、耿力、袁理、王文峰、乔申杰。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T15120.2—1994;
———GB/T15120.4—1994;
———GB/T15120.5—1994。 |
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前言 Ⅰ
1 范围 1
2 符合性 1
3 规范性引用文件 1
4 术语和定义 1
5 识别卡的物理特性 3
5.1 磁条区域翘曲 3
5.2 表面变形 3
6 磁条的物理特性 4
6.1 磁条区域的高度和表面轮廓 4
6.2 表面粗糙度 6
6.3 磁条与卡的粘合 6
6.4 读/写磁头对磁条的磨损 6
6.5 耐化学性 6
7 磁性材料的性能特性 6
7.1 总则 6
7.2 测试和操作环境 6
7.3 对磁介质信号幅度的要求 7
8 编码技术 8
9 编码规范总则 9
9.1 记录角 9
9.2 标称位密度 10
9.3 第1、第2和第3磁道的信号幅度要求 10
9.4 位构成 10
9.5 记录方向 10
9.6 前导零和后导零 10
10 编码规范 11
10.1 字母数字磁道---第1磁道 11
10.2 数字磁道---第2磁道 13
10.3 数字磁道---第3磁道 15
11 差错检测 15
11.1 奇偶校验 15
11.2 纵向冗余校验(LRC) 15
12 编码磁道的位置 16
附录A (资料性附录) 磁条的读兼容性(GB/T15120.2和GB/T15120.6) 17
附录B(资料性附录) 磁条的研磨性 18 |
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