聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序 |
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| 标准编号：GB/Z 28820.2-2012 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：49.0 元 |
客户评分：  |
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GB/Z28820的本部分内容适用于预测低剂量率下老化的程序。
本部分给出了3种根据高剂量率试验数据外推得到一般使用条件下低剂量率数据的方法。这些方法均假设在试验条件下已实现均相氧化。本部分适用于各种弹性体、热塑性材料和部分热固性材料。
各种方法本身也在不断改进与完善之中。为了能够对低剂量率条件进行预测,需要相当多的试验数据。
指数外推法主要用于等温数据,而叠加法可利用各种不同温度条件下得到的数据。 |
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| 英文名称： |
Long-term radiation ageing in polymers - Part 2: Procedures for predicting ageing at low dose rates |
 中标分类： |
电工>>电工材料和通用零件>>K15电工绝缘材料及其制品 |
| ICS分类： |
电气工程>>绝缘材料>>29.035.01绝缘材料综合 |
| 采标情况： |
IEC/TS 61244-2:1996 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2012-11-05 |
| 实施日期： |
2013-02-01
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| 提出单位： |
中国电器工业协会 |
| 归口单位： |
全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会(SAC/TC 301) |
| 主管部门： |
全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会(SAC/TC 301) |
| 起草单位： |
机械工业北京电工技术经济研究所、上海电缆研究所、深圳市旭生三益科技有限公司、中国电器工业协会标准化工作委员会等 |
| 起草人： |
刘亚丽、刘淑芬、孙建生、卢伟、居学成、郭丽平等 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2013-02-01 |
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GB/Z28820《聚合物长期辐射老化》由3部分组成:
———第1部分:监测扩散限制氧化的技术;
———第2部分:预测低剂量率下老化的程序;
———第3部分:低压电缆材料在役监测程序。
本部分为GB/Z28820的第2部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC/TS61244-2:1996《聚合物长期辐射老化 第2部分:预测低剂量率下老化的程序》。
本部分由中国电器工业协会提出。
本部分由全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会(SAC/TC301)归口。
本部分起草单位:机械工业北京电工技术经济研究所、上海电缆研究所、深圳市旭生三益科技有限公司、中国电器工业协会标准化工作委员会、上海核工业研究设计院、上海特缆电工科技有限公司、江苏上上电缆集团有限公司、上海电缆厂有限公司、临海市亚东特种电缆料厂、上海凯波特种电缆料厂有限公司、无锡江南电缆有限公司、常州八益电缆股份有限公司、上海至正道化高分子材料有限公司、上海创新高温线缆厂、浙江万马电缆股份有限公司、深圳市沃尔核材股份有限公司、北京北重汽轮机电机有限
责任公司、北京新福润达绝缘材料有限责任公司。
本部分主要起草人:刘亚丽、刘淑芬、孙建生、卢伟、居学成、郭丽平、顾申杰、孙萍、王松明、王怡瑶、周才辉、段春来、赵文明、周叙元、侯海良、沈彧、唐松柏、康树峰、刘凤娟、刘琦焕。 |
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前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 指数外推法 1
3.1 简介 1
3.2 试验程序 1
3.3 评估和外推 2
3.4 局限性 2
3.5 示例 2
4 依赖于时间的叠加数据 3
4.1 简介 3
4.2 试验程序 3
4.3 评估 3
4.4 局限性 4
4.5 示例 4
5 DED 数据叠加 5
5.1 简介 5
5.2 试验程序 5
5.3 评估 5
5.4 局限性 5
5.5 示例 6
6 结论 6
参考文献 20 |
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T26168.1—2010 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第1部分:辐射相互作用和剂量测定(IEC60544-1:1994,IDT)
GB/T26168.2—2010 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第2 部分:辐照和试验程序(IEC60544-2:1991,IDT)
GB/T26168.3—2010 电气绝缘材料 确定电离辐射的影响 第3部分:辐射环境下应用的分级体系(IEC60544-4:2003,IDT)
GB/Z28820.1—2012 聚合物长期辐射老化 第1 部分:监测扩散限制氧化的技术(IEC/TS61244-1:1993,IDT) |
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