无损检测 闪光灯激励红外热像法 导则 |
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| 标准编号：GB/T 26643-2011 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：41.0 元 |
客户评分：  |
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立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
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本标准规定了闪光灯激励红外热像法无损检测的一般原则,适用于材料和结构的表面及近表面缺陷检测。 |
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| 英文名称： |
Non-destructive testing—Infrared flash thermography—Guideline |
 中标分类： |
机械>>机械综合>>J04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
试验>>19.100无损检测 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2011-06-16 |
| 实施日期： |
2012-03-01
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| 首发日期： |
2011-06-16 |
| 归口单位： |
全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) |
| 主管部门： |
全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) |
| 起草单位： |
北京维泰凯信新技术有限公司、首都师范大学、中国航空工业集团公司北京航空材料研究院、北京理工大学、航天材料及工艺研究所、北京航空航天大学、上海泰司检测科技有限公司、上海材料研究所 |
| 起草人： |
陶宁、王迅、郭广平、李艳红、朱军辉、曾智、金万平、张存林、伍耐明、刘颖韬、金宇飞 |
| 页数： |
20页【彩图】 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2012-03-01 |
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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。
本标准起草单位:北京维泰凯信新技术有限公司、首都师范大学、中国航空工业集团公司北京航空材料研究院、北京理工大学、航天材料及工艺研究所、北京航空航天大学、上海泰司检测科技有限公司、上海材料研究所。
本标准主要起草人:陶宁、王迅、郭广平、李艳红、朱军辉、曾智、金万平、张存林、伍耐明、刘颖韬、金宇飞。 |
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前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 方法概要 1
5 检测系统 2
6 试件 3
7 检测工艺规程 4
8 数据处理和缺陷分析 6
9 安全性 10
附录A (资料性附录) 缺陷的热图分析示例 11
附录B(资料性附录) 微分热图的应用示例 12
附录C (资料性附录) 缺陷的曲线分析示例 13 |
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T5616 无损检测 应用导则
GB/T12604.9 无损检测 术语 红外检测
GB/T20737 无损检测 通用术语和定义(ISO/TS18173) |
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