无损检测 测量残余应力的中子衍射方法 |
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| 标准编号：GB/T 26140-2010 |
标准状态：已作废 |
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| 标准价格：59.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了中子衍射测量多晶材料残余应力的方法。本标准适用于均匀和非均匀材料以及含不同晶相的块状样品检测。
本标准简要介绍了中子衍射技术的原理,测量不同种类材料时对应采用的衍射晶面给出了建议,为如何选择与被测材料晶粒尺寸和应力状态有关的测量方向和待测体积提供了指导。
本标准描述了准确定位和校正中子束内检测部位的过程,目的是在测量时能够准确定义样品材料的取样体积。 |
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| 英文名称： |
Non-destructive testing—Standards test method for determining residual stresses by neutron diffraction |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 26140-2023代替 |
| 中标分类： |
机械>>机械综合>>J04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
试验>>19.100无损检测 |
| 采标情况： |
ISO/TS 21432:2005 IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2011-01-14 |
| 实施日期： |
2011-10-01
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| 作废日期： |
2023-05-23
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| 首发日期： |
2011-01-14 |
| 提出单位： |
全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) |
| 归口单位： |
全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) |
| 主管部门： |
全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) |
| 起草单位： |
中国工程物理研究院核物理与化学研究所、上海泰司检测科技有限公司、上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、上海材料研究所 |
| 起草人： |
陈波、孙光爱、黄朝强、熊智明、金宇飞 |
| 页数： |
36页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2011-10-01 |
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本标准等同采用ISO/TS21432:2005《无损检测 测量残余应力的中子衍射方法》(英文版)。
本标准等同翻译ISO/TS21432:2005。
为便于使用,本标准作了如下修改:
———“本国际标准”一词改为“本标准”;
———删除国际标准的前言;
———将国际标准ISO/TS21432:2005/Cor.1:2008(E)技术勘误纳入本标准;
———用GB/T1.1—2000规定的引导语代替国际标准中的引导语;
———勘误了国际标准图1中图例2和图例3的错误,互换了图例2和图例3的内容;
———勘误了国际标准图2中对散射角的表述错误,将2θa 修改为2θ,相应的图例a 也修改为2θ;
———勘误了国际标准图8c)中SGV 质心的标示错误,将“O”改为“X”;
———勘误了国际标准附录A.5.1中的引用错误,将A.4.4改为A.4.5。
本标准附录A 和附录B为资料性附录。
本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。
本标准起草单位:中国工程物理研究院核物理与化学研究所、上海泰司检测科技有限公司、上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、上海材料研究所。
本标准主要起草人:陈波、孙光爱、黄朝强、熊智明、金宇飞。 |
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前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 符号和缩略语 4
5 方法概要 6
6 测量准备 10
7 材料表征 14
8 记录要求和测量过程 15
9 应力计算 17
10 结果可靠性 19
11 报告 19
附录A (资料性附录) 测量过程 21
附录B(资料性附录) 被测物理量不确定度的测定 26
参考文献 28 |
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下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
EN13925-3 无损检测 多晶和非晶材料的X射线衍射 第3部分:仪器 |
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