机床检验通则 第3部分：热效应的确定 |
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| 标准编号：GB/T 17421.3-2009 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：54.0 元 |
客户评分：  |
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GB/T17421的本部分规定了三种热变形检验,即:
---环境温度变化误差(ETVE)检验;
---由主轴旋转引起的热变形检验;
---由线性轴移动引起的热变形检验。
由线性轴移动引起的热变形检验(见第7章)仅适用于数控机床,并用来量化轴线的热膨胀及收缩对定位精度和重复定位精度的影响程度。由于实际原因,在第7章描述的检验方法适用于线性轴线行程至2000mm 的机床,如果用于轴线行程大于2000mm 的机床,那么在每个轴的正常工作范围内选定一个有代表的2000mm 长度来进行检验。
应当注意,对于本部分所描述的检验没有给出具体的公差值。
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| 英文名称： |
Test code for machine tools - Part 3: Determination of thermal effects |
 中标分类： |
机械>>金属切削机床>>J50机床综合 |
| ICS分类： |
机械制造>>机床>>25.080.01机床综合 |
| 采标情况： |
IDT ISO 230-3:2001 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2009-04-13 |
| 实施日期： |
2010-01-01
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| 首发日期： |
2009-04-13 |
| 提出单位： |
中国机械工业联合会 |
| 归口单位： |
全国金属切削机床标准化技术委员会(SAC/TC 22) |
| 主管部门： |
中国机械工业联合会 |
| 起草单位： |
北京机床研究所、沈阳机床（集团）有限责任公司、北京铣床研究所等 |
| 起草人： |
王兴海、李祥文、张维、张连娣、胡瑞琳、李维谦、王惠芳 |
| 计划单号： |
20051628-T-604 |
| 页数： |
32页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2010-01-01 |
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GB/T17421《机床检验通则》分为以下九个部分:
---第1部分:在无负荷或精加工条件下机床的几何精度;
---第2部分:数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定;
---第3部分:热效应的确定;
---第4部分:数控机床的圆检验;
---第5部分:噪声发射的确定;
---第6部分:对角线位移检验;
---第7部分:回转轴线的几何精度检验;
---第8部分:振动级别的确定;
---第9部分:GB/T17421机床检验系列标准的测量不确定性评估的基本方程式。
本部分为GB/T17421的第3部分。
本部分等同采用ISO2303:2001《机床检验通则 第3部分:热效应的确定》(英文版)。
本部分与ISO2303:2001相比,编辑性修改内容如下:
---将国际标准的本部分改为本部分;
---用小数点符号.代替作为小数点的逗号,;
---删除了国际标准的前言和引言;
---对ISO2303:2001引用的其他国际标准,有被采用为我国标准的用我国标准代替对应的国际标准,未被采用为我国标准的仍采用国际标准;
---第2章规范性引用文件中用ISO1:2002《产品几何量技术规范(GPS) 产品几何量技术规范的标准基准温度和检验》替换ISO2303:2001中引用的ISO1:1975《工业长度测量的标准基准温度》;
---将适用于国际标准的表述改为适用于我国标准的表述。
本部分的附录A、附录B和附录C 为资料性附录。
本部分由中国机械工业联合会提出。
本部分由全国金属切削机床标准化技术委员会(SAC/TC22)归口。
本部分起草单位:沈阳机床(集团)有限责任公司、北京机床研究所、北京铣床研究所、天水星火机床有限责任公司。
本部分主要起草人:王兴海、李祥文、张维、张连娣、胡瑞琳、李维谦、王惠芳。
本部分为首次发布。
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前言Ⅰ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义1
4 简要说明4
5 环境温度变化误差(ETVE)的检验7
6 由主轴旋转引起的热变形10
7 由线性轴线运动引起的热变形13
附录A (资料性附录) 位移传感器信息18
附录B (资料性附录) 需要的位移传感器数量的指南21
附录C (资料性附录) 机床环境温度的指南25
参考文献27
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下列文件中的条款通过GB/T17421的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T17421.1-1998 机床检验通则 第1 部分:在无负荷或精加工条件下机床的几何精度(eqvISO230-1:1996)
GB/T17421.2-2000 机床检验通则 第2 部分:数控轴线的定位精度和重复定位精度的确定(eqvISO230-2:1997)
GB/T17421.4-2003 机床检验通则 第4部分:数控机床的圆检验(ISO230-4:1996,IDT)
ISO1:2002 产品几何量技术规范(GPS) 产品几何量技术规范的标准基准温度和检验
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