游标、带表和数显卡尺 |
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| 标准编号：GB/T 21389-2008 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：38.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了游标卡尺、带表卡尺和数显卡尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验条件、检验方法、标志与包装等。本标准适用于分度值/分辨力为0.01mm、0.02mm、0.05mm和0.10mm，测量范围为（0～70）mm至（0～4000）mm的游标卡尺、带表卡尺和数显卡尺。 |
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本标准是对GB/T1214.1-1996《游标类卡尺 通用技术条件》、GB/T1214.2-1996《游标类卡尺 游标卡尺》、GB/T6317-1993《带表卡尺》、GB/T14899-1994《电子数显卡尺》和JB/T8370-1996《游标类卡尺 游标卡尺(测量范围为0mm~1500mm、0mm~2000mm)》5项标准进行整合修订的。
本标准代替GB/T1214.1-1996《游标类卡尺 通用技术条件》、GB/T1214.2-1996《游标类卡尺 游标卡尺》、GB/T6317-1993《带表卡尺》、GB/T14899-1994《电子数显卡尺》。
自本标准实施之日起,JB/T8370-1996《游标类卡尺 游标卡尺(测量范围为0mm~1500mm、0mm~2000mm)》作废。
本标准与上述5项标准相比,主要变化如下:
---扩展了卡尺1)的测量范围及形式,增加了卡尺结构基本参数的遵循原则,修改了卡尺结构基本参数的推荐值(GB/T1214.2-1996的第1章、第3章;GB/T6317-1993的第1章、第3章;GB/T14899-1994的第1章、第4章;JB/T8370-1996的第1章、第3章;本标准的第1章、第4章);
---用分度值和分辨力术语代替读数值和分辨率术语(GB/T1214.1-1996的第1章;GB/T14899-1994的第1章;本标准的第1章、表4等);
---删除了带表卡尺、测量范围、示值变动性、电子数显卡尺和分辨率的术语定义(GB/T6317-1993的第3章;GB/T14899-1994的第3章);
---增加了带台阶测量面卡尺的形式示意图(本标准的图2、图5);
---修改了卡尺测量爪伸出长度差的要求(放宽),并增加了其检验方法(GB/T1214.2-1996 的3.3;GB/T6317-1993的4.5;GB/T14899-1994的5.5;本标准的5.3和8.3);
---修改并统一规定了卡尺测量面的表面粗糙度犚犪的最大值(GB/T 6317-1993 的5.6;GB/T14899-1994的5.4;本标准的5.5);
---用标尺标记术语代替尺身刻线和游标刻线等术语,并引入零值误差术语(GB/T1214.1-1996的3.6、3.7;GB/T6317-1993的5.7、5.11;JB/T8370-1996的4.5;
本标准的5.6和5.8);
1) 本标准所称卡尺系指游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺三者的统称。
---用微视差游标卡尺术语代替无视差游标卡尺和同一平面型游标卡尺(GB/T1214.1-1996 的3.6.3;本标准的5.7.1);
---增加了对数显卡尺通讯接口的要求(本标准的5.10);
---增加了对数显卡尺防护等级的要求(本标准的5.11);
---增加了对数显卡尺抗静电能力和电磁干扰能力的要求(本标准的5.12);
---修改了卡尺外测量面平面度的要求(GB/T1214.1-1996的4.3;GB/T6317-1993的5.12;GB/T14899-1994的5.6;JB/T8370-1996的4.3;本标准的5.13.1);
---修改并统一规定了卡尺两外测量面合并间隙的要求及检验方法(GB/T6317-1993的5.13;GB/T14899-1994的5.7;本标准的5.13.1和8.10.1);
---用最大允许误差术语代替示值误差术语对卡尺示值指标做出规定(GB/T1214.1-1996的3.9;GB/T1214.2-1996 的4.5、4.6;GB/T6317-1996 的5.15,GB/T14899-1994 的5.10;本标准的5.15);
---修改并统一规定了卡尺外测量的最大允许误差要求,给出了最大允许误差的计算公式,以使标准的使用更方便、更具指导性,并按测量范围上限给出了部分计算值(GB/T1214.1-1996的3.9;GB/T6317-1993的5.15;GB/T14899-1994 的5.10;JB/T8370-1996 的4.7;本标准的5.15.1);
---修改并统一规定了卡尺刀口内测量爪内测量的最大允许误差要求及其检验方法(GB/T1214.2-1996的4.5、5.5;GB/T6317-1993的5.15、A1.2;GB/T14899-1994 的5.9、A10;本标准的5.15.2和8.12.2);
---修改了数显卡尺深度及台阶测量的最大允许误差要求(GB/T14899-1994的5.10;本标准的5.15.3);
---增加了检验卡尺时平衡温度时间的检验条件(GB/T14899-1994的A1;本标准的第7章);
---对卡尺外测量示值检定点,改为提出对示值检测点的数量及其分布规律性的要求,对示值检定点的推荐量块尺寸作为参考资料在资料性附录中给出(GB/T 1214.2-1996 的5.7;GB/T6317-1993的A1.1;GB/T14899-1994的A11.1;JB/T8370-1996 的5.4;本标准的8.12.1.3、附录C);
---修改了卡尺的相互作用(即:移动力,移动力变化和晃动量)的要求及其定量检验方法,并作为参考资料在资料性附录中给出(GB/T1214.2-1996 的5.2.2;GB/T6317-1993 的A4;GB/T14899-1994的A3.1、A3.2;JB/T8370-1996的5.2;本标准的附录A);
---增加了卡尺两外测量面平面度用刀口形直尺检查的评定细则,并作为参考资料在资料性附录中给出,删除了平晶检查法(GB/T 1214.2-1996 的5.3;GB/T 6317-1993 的A3;GB/T14899-1994的A7;JB/T8370-1996的5.3;本标准的附录B)。
本标准的附录B为规范性附录;附录A、附录C 为资料性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。
本标准负责起草单位:成都工具研究所和桂林量具刃具厂。
本标准参加起草单位:上海量具刃具厂、靖江量具有限公司、哈尔滨量具刃具集团有限责任公司、成都成量工具有限公司和桂林广陆数字测控股份有限公司。
本标准主要起草人:陈学仁、赵伟荣、姜志刚、周国明、杨东顺、张伟、于晓霞、李隆勇、彭凤平。 |
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GB/T2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法(eqvIEC60068-2-3:1984)
GB/T2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14:1984,IDT)
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