|
英文名称: |
Acceptance and reliability for discrete semiconductor devices |
标准状态: |
已作废 |
替代情况: |
作废; |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
UDC分类: |
621.382.2/.3.004.12;62-192 |
采标情况: |
IEC 147-4-1976 IDT |
发布部门: |
国家标准局 |
发布日期: |
1985-02-06 |
实施日期: |
1985-11-01
|
起草单位: |
电子部第十三研究所 |
页数: |
8页 |
|
|